表面微粒子计数器QIII为世界，采接触式、量测物体表面Particle数量的设备！
为半导体，面板厂，设备商与所有PARTS CLEAN厂商，验证PARTS表面是否干净的检验标准工具，表面尘埃粒子计数器用于测量各种高洁净度要求的产品，光学镜片组件，液晶面板及超净微环境受控的半导体机台等表面所附着的尘埃粒子的粒径大小及单位面积内的数量。
规格说明
粒子量测范围：0.1um - 5um
通道：0.1、0.2、0.3、1.0、3.0、5.0um
传感器：雷射二极管
显示屏幕：7 英寸 WVGA，触控屏幕，带有缩放功能
数据输出：USB 端口、以太网络、WiFi (选配)
语言：英文、中文、日文、韩文
尺寸和重量：宽12英寸X 深12英寸X 高9英寸，26.5 磅
输入电源：100-240 VAC，50/60 赫兹
电池：2颗 锂电池，可热插入
适合使用单位:
•适合客户群: 半导体黄光, 蚀刻制程, 零件清洗商,设备清洁维护, 光电厂, 玻璃基板厂等
•适合单位 : PVD, CVD, Photo, Ion Plant, YE, QA, QC , Microntation , Etch, Diffusion.
